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“一種用于二代證的檢測方法及其設備”日前獲得國家發明專利,發明人為王立建、馮敬、袁理、王強、王昆等。 專利號為ZL2006 1 0089779.4。專利權人為中國電子技術標準化研究所和北京同方微電子有限公司。
隨著我國第二代居民身份證項目的全面啟動,大量的第二代居民身份證面臨著一個檢測標定的問題。為了保證二代證產品的質量,克服現有檢測設備技術上的不足,通過技術攻關,研制了一種使用方面、檢測精確的用于第二代居民身份證的檢測方法及其設備。該設備能通過對磁場強度、載波頻率、調制深度大小的調整實現對第二代居民身份證的電性能檢測。同時亦可用于非接觸式IC卡的性能分析與標準符合性測試